聚焦显微镜 —— 弹性成像：观察高聚物、蛋白质、陶瓷及高级材料的新视野

2007-06-05 22:31 | 只看楼主 树型| 收藏| 小中大 1^#

Barbara Foster

摘要 :
在材料学特别是薄膜和高级纳米材料领域中，粘弹力最近成为一个重要的参数，各种不同的原子力显微镜都基于物质的这一性质成像，但一直无法定量测量。扫描探针显微镜家族的新成员—原子力声学显微镜（AFAM）为一些长期存在的问题提供了有效的解决办法。

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